分析メニュー(事例)
当社では、材料メーカーとして特有の各種分析技術ノウハウを蓄積してまいりました。また、国際的に信頼性の高い報告値をご提供するために、ISO/IEC 17025試験所の認定を取得しております(認定試験所)。認定範囲内で試験し、得られた分析結果には認定シンボルを記載することが可能です。ISO/IEC 17043(JIS Q 17043)に基づく、国内外の技能試験に参加しています。
各種分析の専門スタッフが、最適な手法で対応します。お困りの事が御座いましたら、お気軽にご相談下さい。
分析メニュー
熱 分 析 |
材料の熱的特性を分析します。 |
表面観察 |
表面観察と形状計測を行います。 |
異物分析 |
微小物も定性します。 |
構成分析 |
有機・無機材料に対応します。 |
定量分析 |
一部、ISO/IEC 17025試験所の認定を取得しております。
(ハロゲンフリー分析) |
分析メニュー 一覧
分析事例
当社における、主な分析事例を示します。
熱分析
DMA*)によるガラス転移点(Tg)分析
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*) DMA=動的粘弾性測定器
動的粘弾性測定器(DMA)による高分子樹脂板の測定例です。高分子樹脂材料のガラス転移点(Tg)、貯蔵弾性率や損失弾性率を測定します。 |
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TMA*)による線膨張係数分析
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*) TMA=熱機械分析装置
熱機械分析装置(TMA)による高分子樹脂板の測定例です。測定曲線の傾きから線膨張係数、接線交点からガラス転移点(Tg)を求めます。 |
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表面観察
SEM*)による表面観察
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*) SEM=走査型電子顕微鏡
試料表面への電子線照射により、表面観察を行います。倍率や試料の傾きなどを最適化し、目的とする表面観察像を得ます。 |
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レーザー顕微鏡による表面形状計測
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試料表面へのレーザー光照射により、表面形状をミクロンレベルで計測します。フィルムの傷の深さなどを計測する事が可能です。 |
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白色光干渉顕微鏡による粗さ測定
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試料表面と参照ミラーからの反射光の干渉により、試料の高さ情報を取得します。非接触で粗さ測定などが可能です。
(Sa:面平均粗さ、Sz:面最大高さ) |
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異物分析
マイクロマニピュレータによる10μm試料採取
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PC画面を見ながら、2本の針をマウスで操作し、微小物を採取します。採取(単離)した微小物は、EDXやFT-IRで定性分析(元素分析/構造解析)します。 |
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EDX*)測定・解析による元素分析
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*) EDX=エネルギー分散X線分析装置
SEM、FE-SEMに搭載した装置であり、目的箇所を拡大観察しながら、元素分析を行います。微小領域、且つ、表面に構成される元素を解析します。(主に、無機物分析) |
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FT-I R*)測定・解析による定性分析
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*) FT-IR=フーリエ変換赤外分光光度計
試料への赤外線照射により、構造を解析します。目的、試料などに応じ、最適な方法(反射法、透過法など)を選択し、異物などを定性分析します。(主に、有機物分析) |
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構成分析
定量分析
GC/MS*)によるアウトガス分析
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*) GC/MS=ガスクロマトグラフ質量分析装置
高分子材料を加熱した時に発生するアウトガスの測定例になります。
各ピークのMSスペクトルおよびピーク面積から、定性および定量を行ないます。
定量はノーマルヘキサデカンによる半定量評価になります。 |
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LC/MS*)による糖類の定量分析
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*) LC/MS=液体クロマトグラフ質量分析装置
ポリマー系アミノカラムを用いたLC/RI(液体クロマトグラフ+示差屈折率検出器)によるレタス抽出液中の糖類の分析例を示します。 |
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ご依頼に関しまして、添付ファイルをご利用下さい。
秘密保持に関しまして
ご依頼の内容に付きましては、全ての内容の秘密を厳守致します。
本件に関するご依頼、お問合せ先
分析センター
TEL : 025-524-2400
FAX : 025-524-5281
E-mail : bunseki@arisawa.co.jp