分析装置
当社では、目的に適した分析装置を駆使し、材料の特性や不具合を解析します。また、多くの分析装置を所有しているので、複合的な解析が可能です。1つの分析装置では解析が困難なケースでも、幾つかの分析装置による結果を用いて、複合的に解析する事により、真の結果を導く事が可能です。
当社が所有する分析装置は、大きく5つに分類されます。
熱分析
機器名 |
略称 |
主な用途、特徴 |
動的粘弾性測定器 |
DMA |
ガラス転移点、貯蔵弾性率、損失弾性率測定 |
示差走査熱量測定装置 |
DSC |
ガラス転移点、吸発熱量測定(光硬化反応を含む) |
熱機械分析装置 |
TMA |
ガラス転移点、線膨張率測定 |
示差熱・熱重量同時測定装置 |
TG/DTA |
吸発熱および熱重量変化の測定 |
熱拡散率測定装置 |
LFA |
熱拡散率測定 |
レオメーター |
- |
溶融粘度、せん弾粘度測定 |
形態観察
機器名 |
略称 |
主な用途、特徴 |
実態顕微鏡 |
SM |
表面の拡大観察(35~330倍)、目視と同等の色彩で観察可 |
光学顕微鏡 |
OM |
表面の拡大観察(150~3000倍)、目視と同等の色彩で観察可 |
走査型電子顕微鏡 |
SEM |
形態観察(~数千倍) |
電界放出型走査電子顕微鏡 |
FE-SEM |
形態観察(~数10万倍) |
走査型透過電子顕微鏡搭載 |
STEM |
透過像観察 |
レーザー顕微鏡 |
LM |
表面凹凸形状観察および段差計測 |
白色光干渉顕微鏡 |
- |
表面凹凸形状観察およびうねり、粗さ計測 |
無機・有機分析/化学組成分析
機器名 |
略称 |
主な用途、特徴 |
エネルギー分散X線分析装置 |
EDX |
微小領域、表面元素分析(SEM、FE-SEMに搭載) |
蛍光X線装置 |
XRF |
パルク、液状、元素分析(Na~U) |
フーリエ変換赤外分光光度計 |
FT-IR |
組成分析 |
クロマトグラフ(分離分析)
機器名 |
略称 |
主な用途、特徴 |
ガスクロマトグラフ |
GC |
ガス状物質の定性および定量 |
ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
GC/MS |
有機化合物の定性および定量 |
揮発性有機化合物分析計 |
VOC |
揮発性有機化合物濃度の定量 |
イオンクロマトグラフ |
IC |
陰および陽イオン定量分析、ハロゲン分析 |
液体クロマトグラフ |
LC |
液状物質の定性および定量 |
液体クロマトグラフ質量分析装置 |
LC/MS |
有機化合物の定性および定量 |
ゲル浸透クロマトグラフ |
GPC |
分子量分布および平均分子量測定 |
前処理装置
機器名 |
略称 |
主な用途、特徴 |
試料研磨器 |
- |
顕微鏡およびSEM用注型試料の研磨および琢磨 |
ロータリーミクロト-ム |
MT |
顕微鏡およびSEM用断面観察試料の作製 |
ウルトラミクロトーム |
UT-MT |
SEMおよびSTEM用薄膜試料の作製(凍結法も可能) |
イオンミリング装置 |
- |
SEMおよびSTEM用薄膜試料の作製(Arイオンビーム) |
電動マイクロマニピュレータ |
MP |
微小物の採取 |
本件に関するご依頼、お問合せ先
分析センター
TEL : 025-524-2400
FAX : 025-524-5281
E-mail : bunseki@arisawa.co.jp